半導(dǎo)體桌上型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 36L SM系列臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
型號(hào):SMA-36PF | 瀏覽量:669 |
更新時(shí)間:2023-10-29 | 是否能訂做:是 |
半導(dǎo)體桌上型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 36L SM系列
臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
半導(dǎo)體桌上型恒溫恒濕試驗(yàn)箱 36L SM系列
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
二、產(chǎn)品用途:
臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行恒定試驗(yàn)的溫濕度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
性能指標(biāo):
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度:≤±2℃
4.濕度范圍:85~98%R.H
5.濕度偏差:±3%R.H
6.濕度波動(dòng):±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度:設(shè)定精度±0.1℃,指示精度±0.1℃,解析度±0.1℃;濕度:設(shè)定精度±1%R.H,指示精度±1%R.H,解析度±1%R.H
5.升溫速率: 1.0~3.0℃/min
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗(yàn)Ca;
5.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環(huán)試驗(yàn);
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。
相關(guān)產(chǎn)品